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項目介紹

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）：是一種可以用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小針尖，使之與樣品表面輕輕接觸。由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，會使懸臂發(fā)生微小的偏轉(zhuǎn)。通過檢測出偏轉(zhuǎn)量并作用反饋控制其排斥力的恒定，就可以獲得微懸臂對應(yīng)于各點的位置變化，從而獲得樣品表面形貌的圖像。

樣品要求

1. 薄膜樣品，尺寸不大于2*2cm（請備注好測試面）；

2. 粉末樣品，質(zhì)量不少于5mg；

3. 液體樣品，體積不小于1ml（濃度不確定，可以加送溶劑空白樣，進(jìn)行測試前稀釋）；

4. 測試溫度：室溫~250°C。

項目案列

常見問題

AFM測試范圍最好小于多少？一般能測多大?

答：小于80×80μm；能測10×10μm、20×20μm、50×50μm。

AFM粉末樣品制樣的常用基底有哪些？

答：常用基底有3種：HOPG（高定向石墨），MICA（云母），Si-chip（硅片）。HOPG的優(yōu)點是導(dǎo)電，主要用于導(dǎo)電樣品的測試。MICA和Si-chip都是常用基底，主要是提供一個平面，可以根據(jù)參考文獻(xiàn)或之前的測試條件來選取。

為什么AFM測試中，樣品表面粗糙度不能太大？

答：一般AFM儀器允許的最大高度差是10μm（部分儀器更?。?，對于表面起伏過大的樣品，一方面可能超出儀器測試范圍，另一方面可能導(dǎo)致跳針、針尖受損或污染，從而影響圖像質(zhì)量，增加損耗成本。

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