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具有多年XPS、DLS等操作經(jīng)驗(yàn)。精通XPS技術(shù)在材料表征上的應(yīng)用，尤其在催化、電池材料的峰形處理方面具有豐富經(jīng)驗(yàn)和實(shí)操技能。同時(shí)，在DLS樣品制備和濃度效應(yīng)分析上有獨(dú)到的理解和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。

馬騁

測(cè)試工程師

項(xiàng)目介紹

通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，得到其衍射圖譜，可獲得材料的成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，可用于物相鑒定、粒徑表征、點(diǎn)陣參數(shù)、結(jié)晶度、殘余應(yīng)力、晶體取向及織構(gòu)的測(cè)定，具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、高精度、可獲取信息量大等優(yōu)點(diǎn)。

樣品要求

☆請(qǐng)盡量用樣品管盛裝粉末樣，用樣品袋盛裝難以刮下且易損失，可能影響測(cè)試效果。

1. 粉末樣至少50mg（如樣品密度偏大，請(qǐng)適量增加），粒度＜200目，手搓無(wú)明顯顆粒感，越細(xì)越好；

2. 塊體樣品需表面平整，尺寸在3*3*1cm以?xún)?nèi)；

3. 塊體/薄膜樣品請(qǐng)注明測(cè)試面；

4. 較薄的薄膜/涂層樣品（厚度＜100nm）請(qǐng)慎重選擇廣角XRD；

5. 微區(qū)XRD樣品需標(biāo)記待測(cè)點(diǎn)，束斑最小為0.01mm，樣品高度應(yīng)不超過(guò)8mm，待測(cè)面應(yīng)平整光滑。

項(xiàng)目案列

XRD廣角衍射

2D-XRD德拜環(huán)圖譜

搖擺曲線(xiàn)

倒易空間圖

常見(jiàn)問(wèn)題

粉末樣品量過(guò)少會(huì)有什么樣的影響？

粉末樣品要鋪滿(mǎn)整個(gè)樣品臺(tái)，若樣品量過(guò)少，可能導(dǎo)致X射線(xiàn)打在樣品臺(tái)上，從而影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。

為什么部分樣品的測(cè)試結(jié)果中衍射峰強(qiáng)度較低，甚至沒(méi)有明顯的衍射峰？

樣品的衍射峰強(qiáng)度主要跟自身結(jié)晶度有關(guān)，結(jié)晶度越好，衍射峰越明顯，其次才是樣品量和儀器功率。

步長(zhǎng)和掃描速度有何關(guān)聯(lián)？掃描速度對(duì)樣品的測(cè)量有何影響？

步長(zhǎng)決定了掃描的精細(xì)程度，掃描速度是由步長(zhǎng)和每步的時(shí)間決定的，每步的時(shí)間長(zhǎng)短會(huì)影響衍射峰的強(qiáng)度和信噪比。每步的時(shí)間越長(zhǎng)，步長(zhǎng)越小，則譜越精細(xì)，信噪比越高，可用于定量計(jì)算，如XRD精修等。

XRD定量的精確度如何？

XRD為半定量分析，定量測(cè)試結(jié)果精確度有限，僅供參考。

Cu靶的波長(zhǎng)是多少？

Kα₁=1.540538埃。

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