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AC-STEM超越普通TEM的極限

來(lái)源：時(shí)間：2024-01-15 09:49:31 瀏覽：1829次

AC-STEM超越普通TEM的極限

聚光鏡球差透射電鏡（Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)AC-STEM）是一種先進(jìn)的電子顯微鏡技術(shù)，它通過(guò)球差校正技術(shù)顯著提高了成像分辨率和景深，從而超越了傳統(tǒng)透射電鏡（Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)TEM）的極限。

一、球差校正技術(shù)的重要性

傳統(tǒng)TEM在成像時(shí)會(huì)受到球差的影響，這是由于電磁透鏡的像差造成的，球差會(huì)導(dǎo)致電子束在通過(guò)樣品時(shí)無(wú)法聚焦到一個(gè)點(diǎn)上，從而影響成像的清晰度和分辨率；在普通TEM中，球差是一個(gè)主要的光學(xué)缺陷，它限制了分辨率的最大值。

二、AC-STEM工作原理

AC-STEM通過(guò)在聚光鏡和物鏡中安裝球差校正器來(lái)克服這一缺陷；球差校正器可以對(duì)電子束的路徑進(jìn)行精確調(diào)整，使得電子束在通過(guò)樣品時(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)完美的聚焦，這樣，AC-STEM能夠獲得更高的分辨率和更深的景深，從而能夠觀察到更加清晰的微觀結(jié)構(gòu)。

三、AC-STEM的優(yōu)勢(shì)

1. 高分辨率：AC-STEM的分辨率遠(yuǎn)高于普通TEM，可以達(dá)到0.05納米（nm）甚至更高，這使得它能夠觀察到更加細(xì)微的晶體結(jié)構(gòu)和界面特征。

2. 深景深：由于球差校正技術(shù)的應(yīng)用，AC-STEM能夠獲得更深的景深，這意味著在觀察樣品時(shí)，可以同時(shí)看到樣品的多個(gè)層次，而不會(huì)出現(xiàn)模糊。

3. 高成像速度：AC-STEM的成像速度比普通TEM快得多，這使得它能夠在短時(shí)間內(nèi)獲得大量的數(shù)據(jù)，非常適合用于動(dòng)態(tài)過(guò)程的研究。

4. 廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域：AC-STEM在材料科學(xué)、物理學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，它能夠幫助科學(xué)家們解決許多復(fù)雜的科學(xué)問(wèn)題。

四、AC-STEM在不同領(lǐng)域的應(yīng)用

1. 材料科學(xué)：AC-STEM能夠高分辨率地觀察到材料的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷分布、相變等微觀信息。

2. 物理學(xué)：在物理研究中，AC-STEM可以用來(lái)研究量子點(diǎn)、納米線等低維系統(tǒng)的電子性質(zhì)。

3. 生物學(xué)：AC-STEM在生物學(xué)中的應(yīng)用主要集中在觀察細(xì)胞膜、蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)、病毒顆粒等生物大分子。

4. 化學(xué)：在化學(xué)領(lǐng)域，AC-STEM可以用來(lái)研究催化劑的活性位點(diǎn)、反應(yīng)機(jī)理等。

聚光鏡球差透射電鏡（AC-STEM）通過(guò)球差校正技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了在超高分辨率下對(duì)樣品進(jìn)行成像，它不僅能夠提供更加清晰的微觀圖像，還能夠獲得更深的景深和高成像速度；這些優(yōu)勢(shì)使得AC-STEM成為科學(xué)研究中的重要工具，特別是在材料科學(xué)、物理學(xué)、生物學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域，它為科學(xué)家們提供了強(qiáng)大的研究手段，幫助他們解決了許多復(fù)雜的科學(xué)問(wèn)題，隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，AC-STEM在未來(lái)無(wú)疑將發(fā)揮更加重要的作用。

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