熱線：400-152-6858
場發(fā)射掃描電鏡（SEM）
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場發(fā)射透射電鏡（TEM）
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X射線衍射儀（XRD）
傅里葉紅外光譜儀（FTIR）
電子自旋共振波譜儀（ESR/EPR）
液體核磁共振（NMR）
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Zeta電位及納米粒度分析儀（DLS）
差示掃描量熱儀（DSC）
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熱重分析（TG-DTG）
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動態(tài)熱機(jī)械分析儀（DMA）
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振動樣品磁強(qiáng)計（VSM）
電化學(xué)分析
聚焦離子束（FIB）
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原位紅外（in-situ IR）
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原位XRD
原位微分電化學(xué)質(zhì)譜儀（DEMS）
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電子萬能試驗(yàn)機(jī)
硬度測試
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37項(xiàng)抗生素檢測
激光共聚焦顯微鏡（CLSM）
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生物樣本透射電鏡（TEM）
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流式細(xì)胞儀（FCM）
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細(xì)胞攝取實(shí)驗(yàn)
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藥物設(shè)計與篩選及驗(yàn)證技術(shù)
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VASP軟件版權(quán)
機(jī)器學(xué)習(xí)
生命周期評估(LCA)
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同步輻射原位表征測試
原位電化學(xué)電子自旋共振波譜儀（ESR/EPR）
原位電化學(xué)拉曼
三維X射線顯微鏡XRM（顯微CT）
原位掃描電子顯微鏡（in-situ-SEM）
原位EBSD（in-situ EBSD）
同步輻射吸收譜（XAFS）
同步輻射XAFS數(shù)據(jù)擬合分析
臺式XAFS吸收譜
同步輻射GIWAXS/GISAXS測試
同步輻射XRD
同步輻射全散射PDF
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